產(chǎn)品中心
全自動(dòng)的超痕量六價(jià)鉻分析儀
儀器簡(jiǎn)介
超痕量六價(jià)鉻分析儀采用柱后衍生色譜法，即：樣品中的六價(jià)鉻經(jīng)過(guò)離子色譜分離后與衍生試劑（二苯卡巴肼）混合，利用六價(jià)鉻具有強(qiáng)氧化性，在酸性環(huán)境下氧化二苯卡巴肼并且絡(luò)合成紫紅色的絡(luò)合物，在540nm處測(cè)定它的光吸收。超痕量六價(jià)鉻分析儀在業(yè)界中首先采用雙離子色譜泵系統(tǒng)，即柱后衍生泵也是高性能的離子色譜泵，從而降低了輸液脈沖、降低檢出限；專(zhuān)用的PDA檢測(cè)器，大幅度提高靈敏度和抗干擾能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 產(chǎn)地：中國(guó)
- 型號(hào)：CR6
手持拉曼光譜儀PTRam785
儀器簡(jiǎn)介
手持拉曼光譜儀PTRam785應(yīng)用于公安安全、毒品快檢、食品安全、珠寶鑒定、原料藥檢測(cè)、生物醫(yī)療、地質(zhì)地礦等多個(gè)領(lǐng)域；集自動(dòng)校準(zhǔn)、檢測(cè)、圖譜處理、數(shù)據(jù)庫(kù)檢索和識(shí)別于一體，操作簡(jiǎn)便快速，易于攜帶；能夠準(zhǔn)確的對(duì)物質(zhì)成分進(jìn)行快速檢測(cè)分析。
產(chǎn)品屬性
- 型號(hào)：PTRam785
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic
儀器簡(jiǎn)介
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic是整體化設(shè)計(jì)的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)克服了光纖耦合光損失過(guò)大的問(wèn)題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。顯微激光拉曼光譜儀CVRam Olympic具備對(duì)微小區(qū)域?qū)崟r(shí)成像及拉曼光譜采集的能力。一體化的設(shè)計(jì)為顯微拉曼系統(tǒng)提供了優(yōu)秀的靈敏度及穩(wěn)定性。是一款可以滿足分析及科研所用的高性能、操作簡(jiǎn)易、便攜式的高性價(jià)比顯微拉曼光譜儀。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 型號(hào)：CVRam Olympic
- 產(chǎn)地：中國(guó)廣東
- 價(jià)格：面議
顯微激光拉曼光譜儀CVRam Edu
儀器簡(jiǎn)介
CVRam是整體化設(shè)計(jì)的785nm激光顯微拉曼光譜儀，結(jié)合了顯微鏡及拉曼光譜儀兩者的優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)克服了光纖耦合光損失過(guò)大的問(wèn)題，利用高性能小型光譜儀就可以獲得高靈敏度。CVRam具備對(duì)微小區(qū)域?qū)崟r(shí)成像及拉曼光譜采集的能力。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 型號(hào)：CVRam Edu
- 產(chǎn)地：中國(guó)廣東
- 價(jià)格：面議
光學(xué)薄膜厚儀Delta系列
儀器簡(jiǎn)介
Delta薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值
產(chǎn)品屬性
- 產(chǎn)地：中國(guó)
- 品牌：貝拓科學(xué)
- 波長(zhǎng)范圍：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta
儀器簡(jiǎn)介
白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。白光干涉薄膜厚度測(cè)量?jī)xDelta根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：貝拓
- 產(chǎn)地：廣東
- 波長(zhǎng)范圍：900-1700nm
- 厚度范圍：10um-3mm
TF200光學(xué)膜厚儀
儀器簡(jiǎn)介
TF200薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理，對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來(lái)的干涉光，用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm，可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜，還可以測(cè)量n和k值。
產(chǎn)品屬性
- 品牌：Betop
- 型號(hào)：TF200
- 產(chǎn)地：中國(guó)
- 價(jià)格：面議